雷達物位計是較為優(yōu)良的雷達式物位測量儀表，天線被進一步優(yōu)化處理。內(nèi)部新型的快速微處理器可以進行更高速率的信號分析處理，使儀表更加適用于固體料、過程容器或強粉塵易結晶、結露場合，測量zui大距離可達70米。
那么雷達物位計利于其優(yōu)勢如何做到測量無死角?下面對其具體介紹：
1、zui小測量范圍與天線有關。
2、對于過溢保護，可定義一段距離附加在盲區(qū)上。
3、測量范圍超出的動作當測量范圍超出時，儀表輸出為22mA電流。
4、若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，為保證測量精度，一般是建議將零點定在低高度為C的位置。
5、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，在一定的條件下雷達物位計也是可以進行測量的。
6、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。
7、理論上測量達到天線頂端的位置是可能的，但考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的頂端至少100mm。
用戶在選型時，可以考慮上述中雷達物位計的測量優(yōu)勢，再結合實際需求正確進行選擇，使物位計的功能可以得到zui大實現(xiàn)。
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